تفرسی سراغیہ خردبینی

آزاد دائرۃ المعارف، ویکیپیڈیا سے
:چھلانگ بطرف رہنمائی، تلاش

تفرسی سراغی خردبینی (scanning probe microscopy) اصل میں خردبینی کی ایک ایسی شاخ ہے جس میں طبیعی / جسمانی / ساختی سراغین (physical probes) کو استعمال کرتے ہوۓ کسی بھی نموذج (specimen) کی سطح کے عکس (تصاویر) کو micrometer تا picometer کے درجے تک اتارا جاسکتا ہے؛ اس خردبینی کی ابتداء 1982ء میں ہونے والی G. Binnig اور H. Rohrer کی تفرسی سرنگی خربینی (scanning tunneling microscopy) سے وابسطہ تسلیم کی جاتی ہے[1] جس پر ان دونوں سائنسدانوں کو نوبل انعام عطا کیا گیا تھا[2]۔


حوالہ جات[ترمیم]

  1. ^ Scanning probe microscopy: the lab on a tip by Ernst Meyer (گوگل کتاب)
  2. ^ تفرسی سرنگی خردبینی پر نوبل مقالہ (پیڈی ایف ملف)